QE Proのグレーティングとスリットの選択により、スペクトル範囲(*注)と波長分解能が決定します(参考値)。
スペクトル範囲(参考値) | 励起波長 | グレーティング | スリット | 波長分解能FWHM(参考値) |
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150~3900 cm-1 | 532 nm | H6 | 10 μm | 0.37 nm |
25 μm | 0.43 nm | |||
150~2000 cm-1 | 785 nm | H6 | 50 μm | 0.55 nm |
100 μm | 0.78nm |
ラマン測定用の励起光としてコンパクトな半導体レーザをご用意しています。
LASER-785 | LASER-532 | |
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励起波長 | 785 nm | 532 nm |
出力(typical) | 350 mW | 100 mW |
スペクトル幅 FWHM | <0.15 nm | <0.05 nm |
励起レーザの波長に対応した光学フィルタを内蔵したラマンプローブです。
RIP-RPB | ラボラトリプローブ |
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RIP-RPS | ステンレススチールプローブ |
RIP-RP2 | 高温(200℃)対応ステンレススチール浸漬式プローブ |
励起レーザ選択や光学系のカスタマイズ
メーカ標準品以外のレーザ(LDやNd:YAGレーザなど)のご選択や光学系(ワーキングディスタンス、観察エリア、光スポット径など)のカスタム対応が可能です。是非ご相談ください。
システム構成:QE Pro(グレーティングH6、スリット;50um)、LASER-785、RIP-RPB 測定条件(露光時間:1sec、スキャン平均:1回、波長スムージング:0)
システム構成:QE Pro(グレーティングH6、スリット;50um)、LASER-785、RIP-RPB 測定条件(露光時間:1sec、スキャン平均:1回、波長スムージング:0)
システム構成:QE Pro(グレーティングH6、スリット;50um)、LASER-785、RIP-RPB 測定条件(露光時間:1sec、スキャン平均:1回、波長スムージング:0)