QE Proのグレーティングとスリットの選択により、スペクトル範囲(*注)と波長分解能が決定します（参考値）。
| スペクトル範囲（参考値） | 励起波長 | グレーティング | スリット | 波長分解能FWHM(参考値) |
|---|---|---|---|---|
| 150～3900 cm-1 | 532 nm | H6 | 10 μm | 0.37 nm |
| 25 μm | 0.43 nm | |||
| 150～2000 cm-1 | 785 nm | H6 | 50 μm | 0.55 nm |
| 100 μm | 0.78nm |
ラマン測定用の励起光としてコンパクトな半導体レーザをご用意しています。
| LASER-785 | LASER-532 | |
|---|---|---|
| 励起波長 | 785 nm | 532 nm |
| 出力(typical) | 350 mW | 100 mW |
| スペクトル幅 FWHM | <0.15 nm | <0.05 nm |
励起レーザの波長に対応した光学フィルタを内蔵したラマンプローブです。
| RIP-RPB | ラボラトリプローブ |
|---|---|
| RIP-RPS | ステンレススチールプローブ |
| RIP-RP2 | 高温（200℃）対応ステンレススチール浸漬式プローブ |
励起レーザ選択や光学系のカスタマイズ
メーカ標準品以外のレーザ（LDやNd:YAGレーザなど）のご選択や光学系（ワーキングディスタンス、観察エリア、光スポット径など）のカスタム対応が可能です。是非ご相談ください。
システム構成：QE Pro（グレーティングH6、スリット;50um）、LASER-785、RIP-RPB 測定条件（露光時間：1sec、スキャン平均：１回、波長スムージング：0）
システム構成：QE Pro（グレーティングH6、スリット;50um）、LASER-785、RIP-RPB 測定条件（露光時間：1sec、スキャン平均：１回、波長スムージング：0）
システム構成：QE Pro（グレーティングH6、スリット;50um）、LASER-785、RIP-RPB 測定条件（露光時間：1sec、スキャン平均：１回、波長スムージング：0）
測定内容
